<図書>
Neutron and X-ray microscopy / by Jay Theodore Cremer, Jr
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 172, 173)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Amsterdam : Academic Press |
分 類 | DC23:621.367 |
出版年 | 2012 |
大きさ | 2 v. : ill. (some col.) ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 |
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3F | pt. 1 | 540A||Adv||172 | 50018175 |
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3F | pt. 2 | 540A||Adv||173 | 50018282 |
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一般注記 | Includes bibliographical references and index |
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著者標目 | *Cremer, Jay Theodore |
件 名 | LCSH:Optoelectronic devices LCSH:Optical data processing |
書誌ID | 1000079442 |
NCID | BB09671593 |