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<図書>
Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures : An Analysis of Composition and Strain State / Andreas Rosenauer
(Springer tracts in modern physics : Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften / editor, G. Höhler ; v. 182)
(Physics and astronomy online library)

データ種別 図書
出版者 Berlin : Springer
出版年 c2003
大きさ xii, 238 p. : ill. ; 24 cm

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3F
420||Erg||182 50009232

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著者標目 Andreas Rosenauer
書誌ID 1000065863
NCID BA61398367