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検索キーワード:(件名: Metals Defects Data processing)
該当件数:1件
Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head ... [et al.]
American Elsevier. - Amsterdam ; London : North-Holland. - New York : American Elsevier , 1973. - (Defects in crystalline solids ; v. 7)
図書