核融合科学研究所図書室を検索します。
CiNii Researchを検索します。
NDLサーチのサイトはこちら
CiNii Booksを検索します。
目次情報検索を検索します。
SCOPUSを検索します。検索パネルが閉じている場合は+ボタンを押してください。
Web of Scienceを検索します。検索パネルが閉じている場合は+ボタンを押してください。
岡崎図書館を検索します。検索パネルが閉じている場合は+ボタンを押してください。
本学の蔵書を検索した結果です。電子媒体は詳細画面から外部へリンクする事が可能です。
検索キーワード:(件名: Electron microscopy Congresses)
該当件数:2件
Examining the submicron world / edited by Ralph Feder, J. Wm. McGowan and Douglas M. Shinozaki
New York : Plenum Press , c1986. - (NATO ASI series ; ser. B . Physics ; v. 137)
図書
Diffraction and imaging techniques in material science / editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt
set,v. 1,v. 2. - 2d, rev. ed. - Amsterdam ; New York : North-Holland : sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier North-Holland , 1978