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検索キーワード:(件名: #X-ray microscope)
該当件数:2件
X-ray microscopy : proceedings of the international symposium, Göttingen, Fed. Rep. of Germany, September, 14-16, 1983 / editors, G. Schmahl and D. Rudolph
: U.S.,: Berlin. - Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , 1984. - (Springer series in optical sciences ; v. 43)
図書
Examining the submicron world / edited by Ralph Feder, J. Wm. McGowan and Douglas M. Shinozaki
New York : Plenum Press , c1986. - (NATO ASI series ; ser. B . Physics ; v. 137)