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検索キーワード:(標準分類: QD96.S43)
該当件数:4件
Secondary ion mass spectrometry : SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
: gw. - Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1986. - (Springer series in chemical physics ; 44)
図書
Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
U.S.,G.W.. - Berlin ; New York : Springer Verlag , 1984. - (Springer series in chemical physics ; v. 36)
Secondary ion mass spectrometry : SIMS III : proceedings of the third international conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30-September 5, 1981 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
: U.S.,: Ger.. - Berlin ; New York : Springer Verlag , 1982. - (Springer series in chemical physics ; v. 19)
Secondary ion mass spectrometry : SIMS II : proceedings of the second international conference, Stanford Univ.,Stanford, California, August 27-31, 1979 / editors: A.Benninghoven...[et al.]
U.S.,Berlin. - Berlin : Springer-Verlag , 1979. - (Springer series in chemical physics ; 9)