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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 / 木本浩司 [ほか] 著 A1 木本, 浩司 A1 三石, 和貴 A1 三留, 正則 A1 原, 徹 A1 長井, 拓郎 A1 講談社サイエンティフィク YR 2020 FD 2020.7 SP x, 389p K1 電子顕微鏡 K1 材料科学 K1 電子顕微鏡 PB 講談社 PP 東京 SN 9784065203866 LA Japanese (日本語) CL NDC8:549.97 CL NDC9:549.97 CL NDC10:549.97 CL NDLC:M213 CL NDC10:501.4 NO 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。 NO その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎 NO 編集: 講談社サイエンティフィク NO 引用文献、参考書・参考文献: 章末 NO 書誌ID=1100000047; NCID=BC01556588; LK [OPAC]https://libop-nifs.nifs.ac.jp/opac/opac_link/bibid/1100000047 LK [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/DocDetail?hdn_if_lang=jpn&txt_docid=NCID:BC01556588; [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/EqualFromForm?txt_isbn=9784065203866 OL 58