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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 サイリスタ装置 / 正田英介[ほか]著 T2 サイリスタ・エレクトロニクス / サイリスタ・エレクトロニクス編集委員会編 A1 正田, 英介(1937-) YR 1974 FD 1974.2 SP 269p K1 シリコン制御整流器 PB 丸善 PP 東京 LA Japanese (日本語) CL NDC6:549.1 CL NDLC:ND371 NO 内容:サイリスタ制御システムの数学的取扱い(正田英介) 直並列接続と変換装置の構成(小林凱, 矢野昌雄) 負荷サイクルと温度上昇(池田吉尭) 半導体素子の冷却(秋山茂) 波形障害(塩見幸三, 川本久之助) 過電流の発生とその保護(鈴木幹二, 原力) 過電圧の発生とその保護(末岡徹郎) 信頼性と装置診断法(地福順人) 各章末:参考文献 NO 書誌ID=1000000259; NCID=BN0057634X; LK [OPAC]https://libop-nifs.nifs.ac.jp/opac/opac_link/bibid/1000000259 LK [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/DocDetail?hdn_if_lang=jpn&txt_docid=NCID:BN0057634X OL 58