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<図書>
Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head ... [et al.]
(Defects in crystalline solids ; v. 7)

データ種別 図書
出版者 Amsterdam ; London : North-Holland
出版者 New York : American Elsevier
分 類 LCC:QD921
DC:548/.842/02854
出版年 1973
大きさ x, 400 p. with illus ; 23 cm

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3F
428C||Hea 10183721

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一般注記 Bibliography: p. [387]-389
著者標目 Head, A. K.
件 名 LCSH:Metals -- Defects -- Data processing  全ての件名で検索
LCSH:Electron microscopy -- Data processing  全ての件名で検索
書誌ID 1000014632
NCID BA07250178

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