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<図書>
Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer

データ種別 図書
出版者 New York : North-Holland : Elsevier Science Pub.
分 類 LCC:QD506
DC19:530.4/1
出版年 c1986
大きさ xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm

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3F
428C||Fel 10131266

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