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<図書>
Secondary ion mass spectrometry : SIMS II : proceedings of the second international conference, Stanford Univ.,Stanford, California, August 27-31, 1979 / editors: A.Benninghoven...[et al.]
(Springer series in chemical physics ; 9)

データ種別 図書
出版者 Berlin : Springer-Verlag
分 類 LCC:QD96.S43
DC19:543/.0873
出版年 1979
大きさ xiii, 295 p. : ill. ; 24 cm

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3F U.S. 429AA||PC-Sec||1979 10176360

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別書名 その他のタイトル:Proceedings of the International Conference(2nd, 1979)
一般注記 Includes bibliographies and index
著者標目 *International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (2nd : 1979 : Stanford, Calif.)
Benninghoven, A.
件 名 LCSH:Secondary ion mass spectrometry -- Congresses  全ての件名で検索
書誌ID 1000045177
NCID BA00565104

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