このページのリンク

<図書>
Aberration-corrected electron microscopy / edited by Peter W. Hawkes
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 153)

データ種別 図書
出版者 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier Academic Press
出版年 2008
大きさ xv, 538 p., [32] p. of plates : ill. (some col.) ; 24 cm

所蔵情報を非表示

3F
540A||Adv||153 50013614

書誌詳細を非表示

一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 Hawkes, P. W. (Peter William), 1937-
書誌ID 1000078623
NCID BA88259270