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<図書>
Atom-probe field ion microscopy and its applications / Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering
(Advances in electronics and electron physics ; Supplement 20)

データ種別 図書
出版者 Boston : Academic Press
分 類 NDC7:549
出版年 c1989
大きさ vii, 299 p : ill. ; 24 cm

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3F
540A||Adv||S-20 10082279

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一般注記 Bibliography: p. 275-292
Includes index
著者標目 酒井, 明 <サカイ, アキラ>
Pickering, H. W.
桜井, 敏雄(1927-) <サクライ, トシオ>
書誌ID 1000011116
NCID BA06995219

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