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<図書>
An artificial intelligence approach to test generation / by Narinder Singh
(The Kluwer international series in engineering and computer science ; 19)

データ種別 図書
出版者 Boston : Kluwer Academic Publishers
分 類 LCC:TK7874
DC19:621.395
出版年 c1987
大きさ x, 193 p. : ill. ; 25 cm

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3F
418B||Sin 10153054

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