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<Books>
ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 / 木本浩司 [ほか] 著

Material Type Books
Publisher 東京 : 講談社
Classification NDC8:549.97
NDC9:549.97
NDC10:549.97
NDLC:M213
NDC10:501.4
Year 2020.7
Size x, 389p : 挿図 ; 21cm

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3F
540A||Kim 30016919

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Other titles title page title:Transmission Electron Microscope for Materials Research
variant access title:透過電子顕微鏡 : 物質・材料研究のための
variant access title:物質材料研究のための透過電子顕微鏡
Notes 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。
その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎
編集: 講談社サイエンティフィク
引用文献、参考書・参考文献: 章末
Authors 木本, 浩司 <キモト, コウジ>
三石, 和貴 <ミツイシ, カズタカ>
三留, 正則 <ミトメ, マサノリ>
原, 徹 <ハラ, トオル>
長井, 拓郎 <ナガイ, タクロウ>
講談社サイエンティフィク <コウダンシャ サイエンティフィク>
Subjects BSH:電子顕微鏡
NDLSH:材料科学
NDLSH:電子顕微鏡
ID 1100000047
NCID BC01556588

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