<図書>
Advances in pattern recognition
データ種別 | 図書 |
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出版者 | London : Springer |
出版年 | 2001- |
大きさ | v. ; 24 cm |
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1 | Markov random field modeling in image analysis / Stan Z. Li : pbk.. - 3rd ed. - London : Springer , c2010 |
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別書名 | その他のタイトル:APR |
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書誌ID | 1100000587 |
NCID | BA5075055X |