Experimental techniques for low-temperature measurements : cryostat design, material properties, and superconductor critical-current testing

＜図書＞
Experimental techniques for low-temperature measurements : cryostat design, material properties, and superconductor critical-current testing / Jack W. Ekin

データ種別	図書
出版者	New York : Oxford University Press
分　類	LCC:QC278 DC22:536/.54
出版年	2006
大きさ	xxviii, 673 p. : ill. ; 26 cm

配架場所	巻　次	請求記号	資料番号	状　態	コメント	予約
3F		533\|\|Eki	50017425 目次PDF

一般注記	Includes index
著者標目	Ekin, Jack. W.
件　名	LCSH:Low temperatures -- Measurement 全ての件名で検索 LCSH:Low temperatures -- Instruments 全ての件名で検索 LCSH:Low temperature research LCSH:Superconductors
書誌ID	1000078889
NCID	BA79313513