<図書>
Optics of charged particle analyzers / Mikhail Yavor
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 157)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Amsterdam ; Tokyo : Elsevier |
出版年 | 2009 |
大きさ | xxiii, 381 p. : ill. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 |
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3F |
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540A||Adv||157 | 50014596 |
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一般注記 | Includes bibliographical references (p. 351-371) and index |
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著者標目 | Yavor, Mikhail |
書誌ID | 1000078641 |
NCID | BA90973345 |