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<図書>
Optics of charged particle analyzers / Mikhail Yavor
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 157)

データ種別 図書
出版者 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier
出版年 2009
大きさ xxiii, 381 p. : ill. ; 24 cm

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3F
540A||Adv||157 50014596

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一般注記 Includes bibliographical references (p. 351-371) and index
著者標目 Yavor, Mikhail
書誌ID 1000078641
NCID BA90973345