<図書>
Aberration-corrected electron microscopy / edited by Peter W. Hawkes
(Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 153)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Amsterdam ; Tokyo : Elsevier Academic Press |
出版年 | 2008 |
大きさ | xv, 538 p., [32] p. of plates : ill. (some col.) ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 |
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3F |
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540A||Adv||153 | 50013614 |
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一般注記 | Includes bibliographical references and index |
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著者標目 | Hawkes, P. W. (Peter William), 1937- |
書誌ID | 1000078623 |
NCID | BA88259270 |