<図書>
Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination / Yoshio Waseda
(Springer tracts in modern physics : Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften / editor, G. Höhler ; v. 179)
(Physics and astronomy online library)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Berlin : Springer |
出版年 | c2002 |
大きさ | xiii, 214 p. : ill. ; 24 cm |
URL |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 |
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3F |
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420||Erg||179 | 50008739 |
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一般注記 | "with 132 figures" Includes bibliographical references and index |
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著者標目 | *早稲田, 嘉夫 (1945-) <ワセダ, ヨシオ> |
書誌ID | 1000063437 |
NCID | BA58657536 |