<図書>
Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
(Springer series in chemical physics ; v. 36)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Berlin ; New York : Springer Verlag |
分 類 | LCC:QD96.S43 DC19:543/.0873 |
出版年 | 1984 |
大きさ | xv, 503 p. : ill. ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 |
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3F | G.W. | 429AA||Pc-Sec||1983 | 10176386 |
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一般注記 | "Fourth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry]"--Pref Includes bibliographical references and index |
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著者標目 | Benninghoven, A. International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (4th : 1983 : Osaka, Japan) |
件 名 | LCSH:Secondary ion mass spectrometry -- Congresses 全ての件名で検索 |
書誌ID | 1000055233 |
NCID | BA06696320 |