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＜図書＞
Secondary ion mass spectrometry : SIMS II : proceedings of the second international conference, Stanford Univ.,Stanford, California, August 27-31, 1979 / editors: A.Benninghoven...[et al.]
(Springer series in chemical physics ; 9)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin : Springer-Verlag |
| 分 類 | LCC:QD96.S43 DC19:543/.0873 |
| 出版年 | 1979 |
| 大きさ | xiii, 295 p. : ill. ; 24 cm |
| URL |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 3F | U.S. | 429AA||PC-Sec||1979 | 10176360 |
|
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| 別書名 | その他のタイトル:Proceedings of the International Conference(2nd, 1979) |
|---|---|
| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
| 著者標目 | *International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (2nd : 1979 : Stanford, Calif.) Benninghoven, A. |
| 件 名 | LCSH:Secondary ion mass spectrometry -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 書誌ID | 1000045177 |
| NCID | BA00565104 |