Computed electron micrographs and defect identification

＜図書＞
Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head ... [et al.]
(Defects in crystalline solids ; v. 7)

データ種別	図書
出版者	Amsterdam ; London : North-Holland
出版者	New York : American Elsevier
分　類	LCC:QD921 DC:548/.842/02854
出版年	1973
大きさ	x, 400 p. with illus ; 23 cm

配架場所	巻　次	請求記号	資料番号	状　態	コメント	予約
3F		428C\|\|Hea	10183721 目次PDF

一般注記	Bibliography: p. [387]-389
著者標目	Head, A. K.
件　名	LCSH:Metals -- Defects -- Data processing 全ての件名で検索 LCSH:Electron microscopy -- Data processing 全ての件名で検索
書誌ID	1000014632
NCID	BA07250178