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＜図書＞
Examining the submicron world / edited by Ralph Feder, J. Wm. McGowan and Douglas M. Shinozaki
(NATO ASI series ; ser. B . Physics ; v. 137)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Plenum Press |
| 分 類 | LCC:QH212.E4 DC19:502/.8/25 |
| 出版年 | c1986 |
| 大きさ | xii, 372 p. : ill. ; 26 cm |
| URL |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 3F |
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428C||PC-Imp||1984 | 10186070 |
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| 一般注記 | "Proceedings of a NATO Advanced Study Institute on Improved Methods for Examining the Submicron World, held July 28-August 11, 1984, in Nova Scotia"--T.p. verso Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | *NATO Advanced Study Institute on Improved Methods for Examining the Submicron World (1984 : Nova Scotia) Feder, Ralph McGowan, J. William (James William), 1931- Shinozaki, Douglas M. |
| 件 名 | LCSH:Electron microscopy -- Congresses
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| 書誌ID | 1000013240 |
| NCID | BA00602040 |