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＜図書＞
Fundamentals of surface and thin film analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : North-Holland : Elsevier Science Pub. |
| 分 類 | LCC:QD506 DC19:530.4/1 |
| 出版年 | c1986 |
| 大きさ | xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm |
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| 一般注記 | Includes bibliographies and index |
|---|---|
| 著者標目 | *Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- |
| 件 名 | LCSH:Surfaces (Technology) -- Analysis
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| 書誌ID | 1000012942 |
| NCID | BA0028903X |