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＜図書＞
Atom-probe field ion microscopy and its applications / Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering
(Advances in electronics and electron physics ; Supplement 20)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Boston : Academic Press |
| 分 類 | NDC7:549 |
| 出版年 | c1989 |
| 大きさ | vii, 299 p : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 3F |
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540A||Adv||S-20 | 10082279 |
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| 一般注記 | Bibliography: p. 275-292 Includes index |
|---|---|
| 著者標目 | 酒井, 明 <サカイ, アキラ> Pickering, H. W. 桜井, 敏雄(1927-) <サクライ, トシオ> |
| 書誌ID | 1000011116 |
| NCID | BA06995219 |