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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 Atom-probe field ion microscopy and its applications / Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering T2 Advances in electronics and electron physics A1 酒井, 明 A1 Pickering, H. W. A1 桜井, 敏雄(1927-) YR 1989 FD c1989 SP vii, 299 p PB Academic Press PP Boston SN 0120145820 LA English (英語) CL NDC7:549 NO Bibliography: p. 275-292 NO Includes index NO 書誌ID=1000011116; NCID=BA06995219; LK [OPAC]https://libop-nifs.nifs.ac.jp/opac/opac_link/bibid/1000011116 LK [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/DocDetail?hdn_if_lang=jpn&txt_docid=NCID:BA06995219; [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/EqualFromForm?txt_isbn=0120145820 OL 30